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一、產品介紹
    半導體缺陷檢測系統由我司自主研發(fā)，該系統集本公司在機器視覺工業(yè)檢測領域多年技術積累，同時結合時下最新的用戶特點及實際需求而推出。產品具有集成度高，操作簡便，設置靈活，穩(wěn)定可靠等優(yōu)點。本產品適用半導體、網絡變壓器等管腳類電子產品檢測對象，規(guī)定了我司半導體系列產品的檢測指標精度。其他技術要求均適用于我司半導體檢測系列的全系產品。

二、視覺檢測優(yōu)勢 
      1、檢測結果標準，可量化，排除了半導體檢測結果受檢測人員主觀意愿、情緒、視覺疲勞等人為因素的影響，可信度高；
      2、速度快、效率高、成本低，機器視覺檢測能達到15PCS/s，提高了生產率，同時也節(jié)約了人力成本；
      3、獨特的3D結構光成像原理，多面成像檢測，3D投影圖像然后對原始管腳和其投影分別檢測引腳長寬、間距、跨距、共面度和共線度。
三、檢測指標：
      

四、半導體檢測缺陷類型
      本系統采用四個相機，分為四個工位對半導體芯片進行檢測，分別是：
      1、方向工位檢測；
      2、鐳射（印字）工位檢測；
      3、3D工位檢測；
      4、編帶工位檢測。